文献
J-GLOBAL ID:200902282060081880
整理番号:04A0512700
193nmリソグラフィー用のアクリル重合体のレジスト特性に及ぼす保護基の影響
Effects of Protecting Group on Resist Characteristics of Acryl Polymers for 193 nm Lithography
著者 (6件):
OGATA T
(TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD., Kanagawa, JPN)
,
MATSUMARU S
(TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD., Kanagawa, JPN)
,
SHIMIZU H
(TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD., Kanagawa, JPN)
,
KUBOTA N
(TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD., Kanagawa, JPN)
,
HADA H
(TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD., Kanagawa, JPN)
,
SHIRAI M
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Journal of Photopolymer Science and Technology
(Journal of Photopolymer Science and Technology)
巻:
17
号:
4
ページ:
483-488
発行年:
2004年
JST資料番号:
L0202A
ISSN:
0914-9244
CODEN:
JSTEEW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)