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文献
J-GLOBAL ID:200902283840104790   整理番号:04A0863941

低角度および高角度明視野走査型透過電子顕微鏡法における格子イメージング

Lattice imaging in low-angle and high-angle bright-field scanning transmission electron microscopy
著者 (8件):
WATANABE K
(Tokyo Metropolitan Coll. Technol., Tokyo, JPN)
KIKUCHI Y
(Assoc. Super-Advanced Electronics Technol. (ASET), Kanagawa, JPN)
YAMAZAKI T
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
ASANO E
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
NAKANISHI N
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
KOTAKA Y
(Fujitsu Lab. Ltd., Kanagawa, JPN)
OKUNISHI E
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
HASHIMOTO I
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)

資料名:
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography  (Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)

巻: A60  号:ページ: 591-597  発行年: 2004年11月 
JST資料番号: A0315B  ISSN: 0108-7673  CODEN: ACACEQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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