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著者 (3件)：
資料名：
巻： 232 号： 1-4 ページ： 254-260 発行年： 2005年05月
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902286205593589
整理番号：05A0521915
多価イオンがかすめ角で衝突したGaNとSiC表面からの二次イオンの運動量画像分光法
Momentum-imaging spectroscopy of secondary ions from GaN and SiC surfaces collided with highly charged ions at grazing angle
MOTOHASHI Kenji
(Dep. of Applied Physics, Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Koganei, Tokyo 184-8588, JPN)
,
TSURUBUCHI Seiji
(Dep. of Applied Physics, Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Koganei, Tokyo 184-8588, JPN)
,
KOUKITU Akinori
(Dep. of Applied Chemistry, Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Koganei, Tokyo 184-8588, JPN)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 232 号： 1-4 ページ： 254-260 発行年： 2005年05月
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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