文献
J-GLOBAL ID:200902286480692074
整理番号:06A0170582
併合テストセットおよびスキャン木を用いたSOCに対する並行コアテスト
Concurrent Core Testing for SOC Using Merged Test Set and Scan Tree
著者 (2件):
ZENG Gang
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
,
ITO Hideo
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E89-D
号:
3
ページ:
1157-1164
発行年:
2006年03月01日
JST資料番号:
L1371A
ISSN:
0916-8532
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)