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文献
J-GLOBAL ID:200902286599146485   整理番号:07A0067489

重イオン照射した0.2μm SOI論理セルにおけるSETパルス幅の直接測定

Direct Measurement of SET Pulse Widths in 0.2-μm SOI Logic Cells Irradiated by Heavy Ions
著者 (13件):
YANAGAWA Y.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
HIROSE K.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
HIROSE K.
(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)
SAITO H.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
SAITO H.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
KOBAYASHI D.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
KOBAYASHI D.
(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)
FUKUDA S.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
FUKUDA S.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
ISHII S.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
TAKAHASHI D.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
YAMAMOTO K.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
KURODA Y.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 53  号: 6,Pt.1  ページ: 3575-3578  発行年: 2006年12月 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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