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著者 (5件)：
資料名：
巻： 85 号： 24 ページ： 6028-6029 発行年： 2004年12月13日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902287293362717
整理番号：05A0057735
Kelvinプローブ力顕微鏡によるAlGaN/GaN高電子移動度トランジスタの表面ポテンシャル測定
Surface potential measurements of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors by Kelvin probe force microscopy
NAKAGAMI K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
OHNO Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
KISHIMOTO S
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MAEZAWA K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MIZUTANI T
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 85 号： 24 ページ： 6028-6029 発行年： 2004年12月13日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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