文献
J-GLOBAL ID:200902287635311907
整理番号:04A0043811
側面情報による計量の効率的学習(原標題は英語)
Efficiently Learning the Metric with Side-Information.
著者 (3件):
DE BIE T
(Univ. Leuven, Leuven, BEL)
,
MOMMA M
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
,
CRISTIANINI N
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
Lecture Notes in Computer Science
(Lecture Notes in Computer Science)
巻:
2842
ページ:
175-189
発行年:
2003年
JST資料番号:
H0078D
ISSN:
0302-9743
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)