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文献
J-GLOBAL ID:200902287635311907   整理番号:04A0043811

側面情報による計量の効率的学習(原標題は英語)

Efficiently Learning the Metric with Side-Information.
著者 (3件):
DE BIE T
(Univ. Leuven, Leuven, BEL)
MOMMA M
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
CRISTIANINI N
(Univ. California, CA, USA)

資料名:
Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)

巻: 2842  ページ: 175-189  発行年: 2003年 
JST資料番号: H0078D  ISSN: 0302-9743  資料種別: 会議録 (C)
発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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