文献
J-GLOBAL ID:200902288933661763
整理番号:06A0328834
多孔性セラミック加工のin situモニタリングのための発生ガス分析へのイオン付着質量分析の適用
Application of Ion Attachment Mass Spectrometry to Evolved Gas Analysis for in Situ Monitoring of Porous Ceramic Processing
著者 (5件):
TSUGOSHI Takahisa
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technology(AIST), Nagoya, JPN)
,
NAGAOKA Takaaki
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technology(AIST), Nagoya, JPN)
,
NAKAMURA Megumi
(Canon ANELVA Technix Corp., Nagoya, JPN)
,
SHIOKAWA Yoshiro
(Canon ANELVA Technix Corp., Nagoya, JPN)
,
WATARI Koji
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technology(AIST), Nagoya, JPN)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
78
号:
7
ページ:
2366-2369
発行年:
2006年04月01日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)