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文献
J-GLOBAL ID:200902289449825235   整理番号:06A0716224

集積傾きフィールドプレートを持つAlGaN/GaN・HEMTで達成された高破壊電圧

High Breakdown Voltage Achieved on AlGaN/GaN HEMTs With Integrated Slant Field Plates
著者 (6件):
DORA Y.
(Univ. California, CA, USA)
CHAKRABORTY A.
(Univ. California, CA, USA)
MCCARTHY L.
(Univ. California, CA, USA)
KELLER S.
(Univ. California, CA, USA)
DENBAARS S. P.
(Univ. California, CA, USA)
MISHRA U. K.
(Univ. California, CA, USA)

資料名:
IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)

巻: 27  号:ページ: 713-715  発行年: 2006年09月 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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