文献
J-GLOBAL ID:200902290057342919
整理番号:09A0691520
仮想亀裂閉口法を用いた電子パッケージにおける三次元界面亀裂問題に対する応力拡大係数の解析
Analysis of stress intensity factors for three-dimensional interface crack problems in electronic packages using the virtual crack closure technique
著者 (2件):
CHIU T.-C.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
LIN H.-C.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
資料名:
International Journal of Fracture
(International Journal of Fracture)
巻:
156
号:
1
ページ:
75-96
発行年:
2009年03月
JST資料番号:
B0696A
ISSN:
0376-9429
CODEN:
IJFRAP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)