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資料名：
巻： 90 号： 18 ページ： 181930-181930-3 発行年： 2007年04月30日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902290183551280
整理番号：07A0440392
ペンタセンの薄膜相のX線回折逆空間マッピングによる研究
X-ray diffraction reciprocal space mapping study of the thin film phase of pentacene
YOSHIDA Hiroyuki
(Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN)
,
INABA Katsuhiko
(X-ray Res. Lab., Rigaku Corp., 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima, Tokyo 196-8666, JPN)
,
SATO Naoki
(Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 90 号： 18 ページ： 181930-181930-3 発行年： 2007年04月30日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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