文献
J-GLOBAL ID:200902291841175774
整理番号:04A0196361
その場気相HClエッチングとその場ドープエピタキシャルSiGe再成長を組み合わせた極浅接合作製のための新技術
A new technique to fabricate ultra-shallow-junctions, combining in situ vapour HCl etching and in situ doped epitaxial SiGe re-growth
著者 (9件):
LOO R
(IMEC, Leuven, BEL)
,
CAYMAX M
(IMEC, Leuven, BEL)
,
MEUNIER-BEILLARD P
(Philips Res. Leuven, Leuven, BEL)
,
PEYTIER I
(IMEC, Leuven, BEL)
,
HOLSTEYNS F
(IMEC, Leuven, BEL)
,
KUBICEK S
(IMEC, Leuven, BEL)
,
VERHEYEN P
(IMEC, Leuven, BEL)
,
LINDSAY R
(IMEC, Leuven, BEL)
,
RICHARD O
(IMEC, Leuven, BEL)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
224
号:
1/4
ページ:
63-67
発行年:
2004年03月15日
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)