文献
J-GLOBAL ID:200902293142967994
整理番号:08A1062716
設計による耐放射線法による集積回路性能の改善
Improving Integrated Circuit Performance Through the Application of Hardness-by-Design Methodology
著者 (1件):
LACOE Ronald C.
(Aerospace Corp., CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
55
号:
4,Pt.1
ページ:
1903-1925
発行年:
2008年08月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)