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文献
J-GLOBAL ID:200902296147274830   整理番号:07A0363149

Saccharomyces cerevisiae欠損株のゲノムワイドスクリーニングにより明かにされた凍結-融解ストレス耐性に必要な遺伝子の同定と分類

Identification and classification of genes required for tolerance to freeze-thaw stress revealed by genome-wide screening of Saccharomyces cerevisiae deletion strains
著者 (5件):
ANDO Akira
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
NAKAMURA Toshihide
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
MURATA Yoshinori
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
TAKAGI Hiroshi
(Nara Inst. Sci. and Technol. (NAIST), Nara, JPN)
SHIMA Jun
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)

資料名:
FEMS Yeast Research  (FEMS Yeast Research)

巻:号:ページ: 244-253  発行年: 2007年03月 
JST資料番号: W1670A  ISSN: 1567-1356  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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