文献
J-GLOBAL ID:200902296147274830
整理番号:07A0363149
Saccharomyces cerevisiae欠損株のゲノムワイドスクリーニングにより明かにされた凍結-融解ストレス耐性に必要な遺伝子の同定と分類
Identification and classification of genes required for tolerance to freeze-thaw stress revealed by genome-wide screening of Saccharomyces cerevisiae deletion strains
著者 (5件):
ANDO Akira
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
,
NAKAMURA Toshihide
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
,
MURATA Yoshinori
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
,
TAKAGI Hiroshi
(Nara Inst. Sci. and Technol. (NAIST), Nara, JPN)
,
SHIMA Jun
(National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
資料名:
FEMS Yeast Research
(FEMS Yeast Research)
巻:
7
号:
2
ページ:
244-253
発行年:
2007年03月
JST資料番号:
W1670A
ISSN:
1567-1356
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)