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資料名：
巻： 42 号： 14 ページ： 145007,1-7 発行年： 2009年07月21日
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902296617015127
整理番号：09A0796926
実験室規模の面内X線回折による擬hcp薄膜中積層欠陥の半定量的評価
Semi-quantitative evaluation of stacking faults in pseudo-hcp thin films by laboratory-scale in-plane x-ray diffraction
SAITO Shin
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
HASHIMOTO Atsushi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
HASEGAWA Daiji
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TAKAHASHI Migaku
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻： 42 号： 14 ページ： 145007,1-7 発行年： 2009年07月21日
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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