文献
J-GLOBAL ID:200902296705212587
整理番号:06A0475286
走査プローブ顕微鏡を用いた結晶Ge2Sb2Te5膜におけるナノスケール相変化
Nanoscale phase changes in crystalline Ge2Sb2Te5 films using scanning probe microscopes
著者 (3件):
SATOH H.
(Dep. of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
,
SUGAWARA K.
(Dep. of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
,
TANAKA K.
(Dep. of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido Univ., Sapporo 060-8628, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
99
号:
2
ページ:
024306-024306-7
発行年:
2006年01月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)