文献
J-GLOBAL ID:200902296820936114
整理番号:07A0875091
走査試験におけるキャプチャ電力低減のための新規のATPG手法
A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing
著者 (7件):
WEN Xiaoqing
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
KAJIHARA Seiji
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
MIYASE Kohei
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
SUZUKI Tatsuya
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
SALUJA Kewal K.
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
,
WANG Laung-Terng
(SynTest Technol., Inc., CA, USA)
,
KINOSHITA Kozo
(Osaka Gakuin Univ., Suita, JPN)
資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E90-D
号:
9
ページ:
1398-1405
発行年:
2007年09月01日
JST資料番号:
L1371A
ISSN:
0916-8532
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)