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資料名：
巻： 47 号： 5 Issue 2 ページ： 3865-3870 発行年： 2008年05月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902297738970866
整理番号：08A0558065
半解析的有限要素法で導いた導波分散曲線とその非破壊検査への応用
Guided Wave Dispersion Curves Derived with a Semianalytical Finite Element Method and Its Applications to Nondestructive Inspection
HAYASHI Takahiro
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 47 号： 5 Issue 2 ページ： 3865-3870 発行年： 2008年05月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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