文献
J-GLOBAL ID:200902299527840640
整理番号:03A0117438
ホログラムシミュレーションによる高精度位相シフト電子ホログラフィーの評価
Evaluation of high-precision phase-shifting electron holography by using hologram simulation.
著者 (4件):
YAMAMOTO K
(Japan Sci. and Technol., Nagoya, JPN)
,
HIRAYAMA T
(Japan Fine Ceramics Centre, Nagoya, JPN)
,
TANJI T
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
HIBINO M
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
35
号:
1
ページ:
60-65
発行年:
2003年01月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)