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文献
J-GLOBAL ID:200902299527840640   整理番号:03A0117438

ホログラムシミュレーションによる高精度位相シフト電子ホログラフィーの評価

Evaluation of high-precision phase-shifting electron holography by using hologram simulation.
著者 (4件):
YAMAMOTO K
(Japan Sci. and Technol., Nagoya, JPN)
HIRAYAMA T
(Japan Fine Ceramics Centre, Nagoya, JPN)
TANJI T
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
HIBINO M
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)

資料名:
Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)

巻: 35  号:ページ: 60-65  発行年: 2003年01月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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