文献
J-GLOBAL ID:200902299940372302
整理番号:04A0912640
AlGaN/GaN高電子移動度トランジスタのバッファ漏れに対する炭素ドーピングの効果
Effect of carbon doping on buffer leakage in AlGaN/GaN high electron mobility transistors
著者 (6件):
POBLENZ C
(Univ. California, California)
,
WALTEREIT P
(Univ. California, California)
,
RAJAN S
(Univ. California, California)
,
HEIKMAN S
(Univ. California, California)
,
MISHRA U K
(Univ. California, California)
,
SPECK J S
(Univ. California, California)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
22
号:
3
ページ:
1145-1149
発行年:
2004年05月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)