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文献
J-GLOBAL ID:201002008140006380   整理番号:77A0112933

臨界電圧および収束ビーム回折法によるGeの構造因子の決定

Determination of structure factors of germanium by the critical-voltage and convergent-beam diffraction methods.
著者 (2件):
SHISHIDO T
TANAKA M

資料名:
Phys Status Solide A  (Physica Status Solidi. A. Applied Research)

巻: 38  号:ページ: 453-461  発行年: 1976年 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 0031-8965  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 東ドイツ (DDR)  言語: 英語 (EN)
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