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著者 (2件)：
資料名：
巻： 24 号： 7 ページ： 691-695 発行年： 1975年
JST資料番号： C0233A 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201002055535726576
整理番号：75A0291473
冗長でない組合せ論理回路網に対するランダム検査発生法の確率論的解析
Probabilistic analysis of random test generation method for irredundant combinational logic networks.
AGRAWAL P
,
AGRAWAL V D
資料名：
I E E E Trans Comput
(IRE Transactions on Electronics Computers)
巻： 24 号： 7 ページ： 691-695 発行年： 1975年
JST資料番号： C0233A 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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