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著者 (6件)：
資料名：
巻： 51 号： 2 ページ： 1152-1156 発行年： 1980年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201002060663747601
整理番号：80A0254404
光音響顕微鏡法による金属中の表面下欠陥検出
Subsurface flaw detection in metals by photoacoustic microscopy.
THOMAS R L
(Wayne State Univ., Michigan)
,
POUCH J J
(Wayne State Univ., Michigan)
,
WONG Y H
(Wayne State Univ., Michigan)
,
FAVRO L D
(Wayne State Univ., Michigan)
,
KUO P K
(Wayne State Univ., Michigan)
,
ROSENCWAIG A
(Univ. California)
資料名：
J Appl Phys
(Journal of Applied Physics)
巻： 51 号： 2 ページ： 1152-1156 発行年： 1980年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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