文献
J-GLOBAL ID:201002216788645746
整理番号:10A0490920
ナノエレクトロメカニカルメモリーデバイスのスケール分析
Scaling Analysis of Nanoelectromechanical Memory Devices
著者 (10件):
NAGAMI Tasuku
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
TSUCHIYA Yoshishige
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
TSUCHIYA Yoshishige
(JST-SORST, Saitama, JPN)
,
UCHIDA Ken
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
UCHIDA Ken
(JST-SORST, Saitama, JPN)
,
MIZUTA Hiroshi
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
MIZUTA Hiroshi
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
MIZUTA Hiroshi
(JST-SORST, Saitama, JPN)
,
ODA Shunri
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
ODA Shunri
(JST-SORST, Saitama, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
49
号:
4,Issue 1
ページ:
044304.1-044304.5
発行年:
2010年04月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)