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文献
J-GLOBAL ID:201002219398686980   整理番号:10A1070069

時間飛行二次イオン質量分析法による分子表面の研究

Investigation of molecular surfaces with time-of-flight secondary ion mass spectrometry
著者 (6件):
AOYAGI Satoka
(Shimane Univ., Shimane, JPN)
NAMEKAWA Koki
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
YAMAMOTO Kenichiro
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
SAKAI Kiyotaka
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
KATO Nobuhiko
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
KUDO Masahiro
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)

巻: 42  号: 10/11  ページ: 1593-1597  発行年: 2010年10月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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