文献
J-GLOBAL ID:201002231347064720
整理番号:10A0449229
X線/中性子反射率測定によるLiFePO4エピタキシャル薄膜の表面キャラクタリゼーション
Surface Characterization of LiFePO4 Epitaxial Thin Films by X-ray/Neutron Reflectometry
著者 (8件):
HIRAYAMA Masaaki
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
YONEMURA Masao
(Ibaraki Univ., Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI Kouta
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
TORIKAI Naoya
(Mie Univ., Mie, JPN)
,
SMITH Hillary
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
WATKINSAND Erik
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
MAJEWSKI Jarek
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
KANNO Ryoji
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
資料名:
電気化学および工業物理化学
(Electrochemistry)
巻:
78
号:
5
ページ:
413-415
発行年:
2010年05月05日
JST資料番号:
G0072A
ISSN:
1344-3542
CODEN:
EECTFA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)