文献
J-GLOBAL ID:201002233486533495
整理番号:10A0224658
大気圧以下の圧力での狭ギャップVHFプラズマを用いたSiに対するペルフルオロカーボン(PFC)フリードライエッチング法
PFC-Free Dry Etching Method for Si Using Narrow-Gap VHF Plasma at Subatmospheric Pressure
著者 (4件):
OHMI Hiromasa
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KISHIMOTO Kazuya
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KAKIUCHI Hiroaki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
YASUTAKE Kiyoshi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
157
号:
2
ページ:
D85-D89
発行年:
2010年
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)