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著者 (3件)：
資料名：
巻： 39 号： 6 ページ： 815-818 発行年： 2010年06月
JST資料番号： D0277B ISSN： 0361-5235 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201002234201696040
整理番号：10A0695204
電子ホログラフィ法によるInGaN/GaN量子井戸内の圧電場の計測
Determination of Piezoelectric Fields Across InGaN/GaN Quantum Wells by Means of Electron Holography
DEGUCHI Masashi
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
TANAKA Shigeyasu
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
TANJI Takayoshi
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名：
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻： 39 号： 6 ページ： 815-818 発行年： 2010年06月
JST資料番号： D0277B ISSN： 0361-5235 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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