文献
J-GLOBAL ID:201002282685968795
整理番号:10A0048998
Si K吸収端におけるキャップGeナノドットの異常なすれすれ入射小角散乱
Anomalous Grazing Incidence Small-Angle Scattering of Capped Ge Nanodots at the Si K Absorption Edge
著者 (4件):
OKUDA Hiroshi
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KATO Masayuki
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
OCHIAI Shojiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KITAJIMA Yoshinori
(High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
2
号:
12
ページ:
126501.1-126501.3
発行年:
2009年12月25日
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)