文献
J-GLOBAL ID:201002287184461951
整理番号:10A1125013
大型ヘリカル装置におけるマイクロ波画像化反射測定のための4の異なる周波数の同時投射及び検出システム
Simultaneous projection and detection system of four different frequencies for microwave imaging reflectometry in Large Helical Device
著者 (8件):
YOSHINAGA T.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
NAGAYAMA Y.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
KUWAHARA D.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
,
TSUCHIYA H.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
YAMAGUCHI S.
(Kansai Univ., 3-3-35 Yamate, Suita 564-8680, JPN)
,
KOGI Y.
(Fukuoka Inst. of Technol., 3-30-1 Wajiro-Higashi, Fukuoka 811- 0295, JPN)
,
TSUJI-IIO S.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
,
MASE A.
(Kyushu Univ., 6-1 Kasuga-Koen, Kasuga 816-8680, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
81
号:
10
ページ:
10D915
発行年:
2010年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)