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J-GLOBAL ID:201002287184461951   整理番号:10A1125013

大型ヘリカル装置におけるマイクロ波画像化反射測定のための4の異なる周波数の同時投射及び検出システム

Simultaneous projection and detection system of four different frequencies for microwave imaging reflectometry in Large Helical Device
著者 (8件):
YOSHINAGA T.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
NAGAYAMA Y.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
KUWAHARA D.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
TSUCHIYA H.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
YAMAGUCHI S.
(Kansai Univ., 3-3-35 Yamate, Suita 564-8680, JPN)
KOGI Y.
(Fukuoka Inst. of Technol., 3-30-1 Wajiro-Higashi, Fukuoka 811- 0295, JPN)
TSUJI-IIO S.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
MASE A.
(Kyushu Univ., 6-1 Kasuga-Koen, Kasuga 816-8680, JPN)

資料名:
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

巻: 81  号: 10  ページ: 10D915  発行年: 2010年10月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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