Sorry, this section is only available in Japanese.
著者 (4件)：
資料名：
巻： 28 号： 2 ページ： C2A9 発行年： 2010年03月
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201002288971287612
整理番号：10A0346737
集束イオンビーム誘起堆積により作製したPtフィールドエミッタから放出された電子により誘起された電子波干渉
Electron wave interference induced by electrons emitted from Pt field emitter fabricated by focused-ion-beam-induced deposition
MURAKAMI K.
(Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...)
,
MATSUO T.
(Graduate School of Engineering Sci., Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, JPN)
,
WAKAYA F.
(Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...)
,
TAKAI M.
(Center for Quantum Sci. and Technol. under Extreme Conditions, Osaka Univ., 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka ...)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 28 号： 2 ページ： C2A9 発行年： 2010年03月
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。