文献
J-GLOBAL ID:201002295233669558
整理番号:10A1012897
逆ComptonX線源を用いた単発インライン位相コントラストイメージングの定量評価
Quantitative evaluation of single-shot inline phase contrast imaging using an inverse compton x-ray source
著者 (10件):
OLIVA P.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
,
CARPINELLI M.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
,
GOLOSIO B.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
,
DELOGU P.
(Dipartimento di Fisica “E. Fermi”, Universita di Pisa, Largo B. Pontecorvo 3, 56127 Pisa, ITA)
,
ENDRIZZI M.
(INFN, Sezione di Pisa, 56127 Pisa, ITA)
,
PARK J.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
,
POGORELSKY I.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
,
YAKIMENKO V.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
,
WILLIAMS O.
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of California, Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA)
,
ROSENZWEIG J.
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of California, Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
97
号:
13
ページ:
134104
発行年:
2010年09月27日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)