Sorry, this section is only available in Japanese.
前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201102209544481980   整理番号:11A0467164

強誘電体ゲートのためのSr0.8Bi2.2Ta2O9およびSr0.8Bi2.2Ta2O9-BaZrO3を用いた金属-強誘電体-絶縁体-半導体構造の特性評価

Characteristics of metal-ferroelectric-insulator-semiconductor structure using Sr0.8Bi2.2Ta2O9 and Sr 0.8Bi2.2Ta2O9-BaZrO3 for ferroelectric gates
著者 (5件):
BOZGEYIK M.S.
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
SHINOZAKI K.
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
CROSS J.S.
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
ISHIWARA H.
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
BOZGEYIK M.S.
(Kahramanmaras Sutcu Imam Univ., Kahramanmaras, TUR)

資料名:
Microelectronic Engineering  (Microelectronic Engineering)

巻: 87  号: 11  ページ: 2173-2177  発行年: 2010年 
JST資料番号: C0406B  ISSN: 0167-9317  CODEN: MIENEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。