文献
J-GLOBAL ID:201102217201737221
整理番号:11A0143254
強誘電体ゲート電界効果トランジスタによる0.5V6トランジスタスタティックランダムアクセスメモリ
A 0.5-V Six-Transistor Static Random Access Memory with Ferroelectric-Gate Field Effect Transistors
著者 (7件):
TANAKAMARU Shuhei
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HATANAKA Teruyoshi
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
YAJIMA Ryoji
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
MIYAJI Kousuke
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
TAKAHASHI Mitsue
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
SAKAI Shigeki
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
TAKEUCHI Ken
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
49
号:
12
ページ:
121501.1-121501.8
発行年:
2010年12月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)