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著者 (11件)：
資料名：
巻： 2010 ページ： 82-85 発行年： 2010年
JST資料番号： C0829B ISSN： 0163-1918 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201102235989171914
整理番号：11A1159806
バイアス温度不安定性解明の最近の進展
Recent Advances in Understanding the Bias Temperature Instability
GRASSER T.
(TU Wien, AUT)
,
KACZER B.
(IMEC, Leuven, BEL)
,
GOES W.
(TU Wien, AUT)
,
REISINGER H.
(Infineon, Munich, DEU)
,
AICHINGER Th.
(KAI, Villach, AUT)
,
HEHENBERGER Ph.
(TU Wien, AUT)
,
WAGNER P.-J.
(TU Wien, AUT)
,
SCHANOVSKY F.
(TU Wien, AUT)
,
FRANCO J.
(IMEC, Leuven, BEL)
,
ROUSSEL Ph.
(IMEC, Leuven, BEL)
,
NELHIEBEL M.
(Infineon, Villach, AUT)
資料名：
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻： 2010 ページ： 82-85 発行年： 2010年
JST資料番号： C0829B ISSN： 0163-1918 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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