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著者 (5件)：
資料名：
巻： 131 号： 10 ページ： 1232-1239 (J-STAGE) 発行年： 2011年
JST資料番号： X0451A ISSN： 0913-6339 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：201102276138267577
整理番号：11A1585985
半導体歩留り解析のための回帰木に基づく仮説検証手法の提案
A Hypothesis Verification Method Using Regression Tree for Semiconductor Yield Analysis
津田英隆
(富士通(株))
,
白井英大
(富士通セミコンダクターITシステムズ(株))
,
寺邊正大
((株)三菱総合研究所)
,
橋本和夫
(東北大学大学院情報科学研究科)
,
篠原歩
(東北大学大学院情報科学研究科)
資料名：
電気学会論文誌 D
(IEEJ Transactions on Industry Applications)
巻： 131 号： 10 ページ： 1232-1239 (J-STAGE) 発行年： 2011年
JST資料番号： X0451A ISSN： 0913-6339 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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