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文献
J-GLOBAL ID:201102291490854414   整理番号:11A1648375

読取障害を最小化する設計技法を含む45nm 1Mb埋込みSTT-MRAM

A 45nm 1Mb Embedded STT-MRAM with Design Techniques to Minimize Read-Disturbance
著者 (11件):
KIM Jung Pill
(Qualcomm Inc., California, USA)
KIM Taehyun
(Qualcomm Inc., California, USA)
HAO Wuyang
(Qualcomm Inc., California, USA)
RAO Hari M.
(Qualcomm Inc., California, USA)
LEE Kangho
(Qualcomm Inc., California, USA)
ZHU Xiaochun
(Qualcomm Inc., California, USA)
LI Xia
(Qualcomm Inc., California, USA)
HSU Wah
(Qualcomm Inc., California, USA)
KANG Seung H.
(Qualcomm Inc., California, USA)
MATT Nowak
(Qualcomm Inc., California, USA)
YU Nick
(Qualcomm Inc., California, USA)

資料名:
Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits  (Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits)

巻: 2011  ページ: 296-297  発行年: 2011年 
JST資料番号: W0767A  ISSN: 2158-5601  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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