文献
J-GLOBAL ID:201102291490854414
整理番号:11A1648375
読取障害を最小化する設計技法を含む45nm 1Mb埋込みSTT-MRAM
A 45nm 1Mb Embedded STT-MRAM with Design Techniques to Minimize Read-Disturbance
著者 (11件):
KIM Jung Pill
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
KIM Taehyun
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
HAO Wuyang
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
RAO Hari M.
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
LEE Kangho
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
ZHU Xiaochun
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
LI Xia
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
HSU Wah
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
KANG Seung H.
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
MATT Nowak
(Qualcomm Inc., California, USA)
,
YU Nick
(Qualcomm Inc., California, USA)
資料名:
Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits
(Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits)
巻:
2011
ページ:
296-297
発行年:
2011年
JST資料番号:
W0767A
ISSN:
2158-5601
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)