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著者 (6件)：
資料名：
巻： 82 号： 3 ページ： 033101 発行年： 2011年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201102299355321881
整理番号：11A0791192
クラスタイオン衝撃イオン化による飛行時間2次イオン質量分析法を用いる有機化合物の表面感応化学分析のための2次イオンの計数
Secondary ion counting for surface-sensitive chemical analysis of organic compounds using time-of-flight secondary ion mass spectroscopy with cluster ion impact ionization
HIRATA K.
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Higashi ...)
,
SAITOH Y.
(Takasaki Advanced Radiation Res. Inst. (TARRI), Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Takasaki Gumma 370-1292, JPN)
,
CHIBA A.
(Takasaki Advanced Radiation Res. Inst. (TARRI), Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Takasaki Gumma 370-1292, JPN)
,
YAMADA K.
(Takasaki Advanced Radiation Res. Inst. (TARRI), Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Takasaki Gumma 370-1292, JPN)
,
TAKAHASHI Y.
(Advanced Sci. Res. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Takasaki, Gumma 370-1292, JPN)
,
NARUMI K.
(Advanced Sci. Res. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Takasaki, Gumma 370-1292, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 82 号： 3 ページ： 033101 発行年： 2011年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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