文献
J-GLOBAL ID:201202209775150665
整理番号:12A0239137
Sn-Ag-Cu微小はんだ接合の疲れ延性指数に対する周期性歪硬化指数の影響
Influence of Cyclic Strain-Hardening Exponent on Fatigue Ductility Exponent for a Sn-Ag-Cu Micro-Solder Joint
著者 (3件):
KANDA Yoshihiko
(Graduate School of Shibaura Inst. of Technol., 3-7-5 Toyosu, Koto-ku, 135-8548, Tokyo, JPN)
,
KARIYA Yoshiharu
(Shibaura Inst. of Technol., Dep. of Materials Sci. and Engineering, 3-7-5 Toyosu, Koto-ku, 135-8548, Tokyo, JPN)
,
OTO Yuji
(Graduate School of Shibaura Inst. of Technol., 3-7-5 Toyosu, Koto-ku, 135-8548, Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
41
号:
3
ページ:
580-587
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)