文献
J-GLOBAL ID:201202216638269180
整理番号:12A0395053
スピン移動トルクRAM技術:レビューと予測
Spin-transfer torque RAM technology: Review and prospect
著者 (5件):
KAWAHARA T.
(Central Res. Lab., Hitachi Ltd., Kokubunji, Tokyo 185-8601, JPN)
,
ITO K.
(Central Res. Lab., Hitachi Ltd., Kokubunji, Tokyo 185-8601, JPN)
,
TAKEMURA R.
(Central Res. Lab., Hitachi Ltd., Kokubunji, Tokyo 185-8601, JPN)
,
OHNO H.
(Center for Spintronics Integrated Systems, Tohoku Univ., Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
OHNO H.
(Lab. for Nanoelectronics and Spintronics, Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., JPN)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
4
ページ:
613-627
発行年:
2012年04月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)