文献
J-GLOBAL ID:201202230576283434
整理番号:12A0153115
SiC素子プロセスにおけるイオン注入の技術的面
Technological Aspects of Ion Implantation in SiC Device Processes
著者 (3件):
NEGORO Y.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KIMOTO T.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MATSUNAMI H.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
483/485
ページ:
599-604
発行年:
2005年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)