文献
J-GLOBAL ID:201202233185863214
整理番号:12A1228613
深さ分解X線吸収分光法による薄膜の化学的状態と磁気構造のサブnm分解能深さプロファイリング
Sub-nm resolution depth profiling of the chemical state and magnetic structure of thin films by a depth-resolved X-ray absorption spectroscopy technique
著者 (1件):
AMEMIYA Kenta
(High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN)
資料名:
Physical Chemistry Chemical Physics
(Physical Chemistry Chemical Physics)
巻:
14
号:
30
ページ:
10477-10484
発行年:
2012年08月14日
JST資料番号:
A0271C
ISSN:
1463-9076
CODEN:
PPCPFQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)