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著者 (23件)：
資料名：
巻： 2012 ページ： 61-62 発行年： 2012年
JST資料番号： A0035B ISSN： 0743-1562 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201202249863965760
整理番号：12A1547889
高速および信頼性のある磁壁移動素子 内蔵記憶装置および論理回路用の材料設計
High-speed and reliable domain wall motion device: Material design for embedded memory and logic application
FUKAMI S.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
YAMANOUCHI M.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
KOYAMA T.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
UEDA K.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIMURA Y.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KIM K.-J.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
CHIBA D.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
CHIBA D.
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
,
HONJO H.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
SAKIMURA N.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
NEBASHI R.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
KATO Y.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
TSUJI Y.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
MORIOKA A.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
KINOSHITA K.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
MIURA S.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI T.
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
TANIGAWA H.
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
IKEDA S.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
SUGIBAYASHI T.
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
KASAI N.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
ONO T.
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
OHNO H.
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
資料名：
Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Technology
(Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Technology)
巻： 2012 ページ： 61-62 発行年： 2012年
JST資料番号： A0035B ISSN： 0743-1562 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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