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文献
J-GLOBAL ID:201202272140513366   整理番号:12A0238759

Al2Cu析出物を使用したIGBTモジュールの太いAlCuワイヤボンドの信頼性向上

Reliability Enhancement of Thick Al-Cu Wire Bonds in IGBT Modules Using Al2Cu Precipitates
著者 (7件):
KUROSU Toshiki
(Power and Industrial Div., Hitachi Ltd.)
KUROSU Toshiki
(Graduate School of Sci. and Engineering, Ibaraki Univ.)
KHOO Khyoupin
(Dep. of Materials Sci., Fac. of Engineering, Ibaraki Univ.)
NAKAMURA Yoshihide
(Graduate School of Sci. and Engineering, Ibaraki Univ.)
OZAKI Keisuke
(Graduate School of Sci. and Engineering, Ibaraki Univ.)
ISHIKAWA Nobuhiro
(The National Inst. for Materials Sci.)
ONUKI Jin
(Dep. of Materials Sci., Fac. of Engineering, Ibaraki Univ.)

資料名:
Materials Transactions  (Materials Transactions)

巻: 53  号:ページ: 453-456 (J-STAGE)  発行年: 2012年 
JST資料番号: G0668A  ISSN: 1345-9678  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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