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著者 (5件)：
資料名：
巻： 282 ページ： 297-301 発行年： 2013年10月01日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201302209929512996
整理番号：13A1300850
X線回折によるSiC(0001)上の不均一グラフェン厚さの決定
Determination of non-uniform graphene thickness on SiC (0001) by X-ray diffraction
RUAMMAITREE A.
,
NAKAHARA H.
,
AKIMOTO K.
,
SODA K.
,
SAITO Y.
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 282 ページ： 297-301 発行年： 2013年10月01日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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