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文献
J-GLOBAL ID:201302218122458555   整理番号:13A0293119

超高圧電子線トモグラフィーと集束イオンビーム法によるヒトエナメル質と象牙質の限外構造観察

Ultra-structural observation of human enamel and dentin by ultra-high-voltage electron tomography and the focus ion beam technique
著者 (4件):
MIURA Jiro
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
KUBO Mizuho
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
NAGASHIMA Tadashi
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
TAKESHIGE Fumio
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)

資料名:
Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)

巻: 61  号:ページ: 335-341  発行年: 2012年10月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 0022-0744  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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