文献
J-GLOBAL ID:201302224838354904
整理番号:13A0358874
Si(111)上のBaSi2エピタキシャル膜におけるホウ素原子の格子拡散および粒界拡散
Lattice and grain-boundary diffusions of boron atoms in BaSi2 epitaxial films on Si(111)
著者 (9件):
NAKAMURA K.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
,
BABA M.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
,
AJMAL KHAN M.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
,
DU W.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
,
SASASE M.
(The Wakasa Wan Energy Res. Center, Tsuruga, Fukui 914-0192, JPN)
,
HARA K. O.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
USAMI N.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
TOKO K.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
,
SUEMASU T.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
113
号:
5
ページ:
053511-053511-4
発行年:
2013年02月07日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)