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資料名：
巻： 52 号： 1,Issue 1 ページ： 011201.1-011201.5 発行年： 2013年01月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201302249625456145
整理番号：13A0311944
透過電子顕微鏡によるウエハー-接着InAs/Siヘテロ接合の研究
Investigation of Wafer-Bonded InAs/Si Heterojunction by Transmission Electron Microscopy
KANBE Hiroshi
(Kochi Univ. Technol., Kochi, JPN)
,
TADA Masanori
(Kochi Univ. Technol., Kochi, JPN)
,
KOCHIGAHAMA Takuya
(Kochi Univ. Technol., Kochi, JPN)
,
TANIWAKI Masafumi
(Kochi Univ. Technol., Kochi, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 52 号： 1,Issue 1 ページ： 011201.1-011201.5 発行年： 2013年01月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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