文献
J-GLOBAL ID:201302262273760511
整理番号:12A1796892
垂直共振器形面発光レーザダイオード対を利用した長さドリフトに耐性のある周波数走査干渉測定法
Frequency Scanning Interferometry Immune to Length Drift Using a Pair of Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser Diodes
著者 (2件):
KAKUMA Seiichi
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
KATASE Yasuhiko
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名:
Optical Review
(Optical Review)
巻:
19
号:
6
ページ:
376-380
発行年:
2012年12月01日
JST資料番号:
L2272A
ISSN:
1340-6000
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)