文献
J-GLOBAL ID:201302263773198611
整理番号:13A0988444
熱酸化による半導体β-Ga2O3単結晶上の半絶縁層の形成
Formation of Semi-Insulating Layers on Semiconducting β-Ga2O3 Single Crystals by Thermal Oxidation
著者 (10件):
OSHIMA Takayoshi
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
KAMINAGA Kenichi
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
MUKAI Akira
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
SASAKI Kohei
(Tamura Corp., Saitama, JPN)
,
MASUI Takekazu
(KOHA Co., Ltd., Tokyo, JPN)
,
KURAMATA Akito
(Tamura Corp., Saitama, JPN)
,
YAMAKOSHI Shigenobu
(Tamura Corp., Saitama, JPN)
,
FUJITA Shizuo
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
OHTOMO Akira
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
OHTOMO Akira
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
52
号:
5,Issue 1
ページ:
051101.1-051101.5
発行年:
2013年05月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)